電子機器を市場に出す前に、製造者はその機器が電磁両立性（EMC）の要件を満たしていることを確認しなければならない。しかし、最終的なEMC適合試験は複雑でコストがかかり、特殊な測定装置とシールドされたRF電波暗室を備えた認定試験所でなければ実施できない場合があります。製品の予備試験でさえ、すぐに4桁の費用がかかり、試験所の稼働率が高いため、数週間の待ち時間が発生することもある。製品が公式テストに不合格だった場合、コストのかかる改良や設計変更が必要となり、多くの場合、開発の後期段階で、追加コストが発生し、市場投入が遅れる可能性があります。

❗ 課題： 予備試験でさえ4桁の費用がかかることがあり、試験所の作業負荷が高いため、待ち時間が長くなることが多い。

このようなリスクを最小限に抑えるには、開発の初期段階で独自のEMC予備試験を実施するのが理にかなっています。これにより、潜在的な問題領域を早期に認識し、修正することができます。これにより、費用のかかる再試験や時間のかかる設計調整を行うことなく、認定試験所での最終試験に合格する可能性が高まります。

仕様と規格

EMC試験に関連する規格は数多くあり、電波干渉エミッションの許容限界も定められています。これらは、CISPR（Comité International Spécial des Perturbations Radioélectriques - 国際電波障害特別委員会）の出版物に記載されています。CISPR規格の多くは、欧州のEN規格や米国のFCC規制に採用されています。EN規格はドイツ語などでも入手可能です。規格は一般的に有料であるため、最初に概要を把握するためには、自由にアクセスできる情報源を参照することが役立ちます。

測定装置とプロセス仕様

標準化されたEMC試験のための測定技術と手順に関する要件は、CISPR 16で定義されています。この規格の第 1 部は，無線周波数エミッション（電波妨害）の検出及びイミュニティ試験に使用される測定器及び機器について記述している。

• CISPR 16-1：無線周波数エミッションの検出及びイミュニティ試験に必要な測定器及び機器を規定している。
• CISPR 16-2 ：エミッション及びイミュニティの測定試験方法を規定している。